Toepassingsachtergrond:
Een wafer sorteermachine is een essentieel onderdeel van de halfgeleiderfabricage, gebruikt om wafers automatisch te classificeren en te sorteren op basis van vooraf gedefinieerde kwaliteitsnormen. Het evalueert wafers op basis van visuele inspectie, elektrische testresultaten en andere criteria, en scheidt vervolgens automatisch goede wafers van de rest. Het systeem integreert doorgaans een geavanceerde visuele inspectie-eenheid en geautomatiseerde materiaalverwerking, wat zorgt voor een hoge inspectienauwkeurigheid en een hoge doorvoer tegelijkertijd. Wafer sorteermachines worden veel gebruikt in IC-, opto-elektronische en andere elektronische componentenproductielijnen, wat helpt de automatisering te verhogen, menselijke fouten te verminderen en consistente eindproductkwaliteit en betrouwbaarheid te handhaven.

Oplossingsoverzicht:

• Hoofdcontroller: Siemens PLC

• Processegment: Wafer classificatie en sortering

• Project I/O-configuratie: 3RS-PN2 + 916DI + 916DO + 18AI

• Jaarlijks gebruik: Ongeveer 300.000 I/O-punten

Projectbeschrijving:
Dit project maakt gebruik van een Siemens S7-1200 PLC als de kerncontroller, gecombineerd met meerdere I/O-modules om een efficiënt en betrouwbaar wafer sorteercontrolesysteem te vormen. De PLC ontvangt signalen van verschillende veldsensoren, waaronder foto-elektrische sensoren, verplaatsingssensoren, temperatuursensoren en beslissingsresultaten van het visuele inspectiesysteem, om de oppervlaktekwaliteit van de wafer en de omgevingscondities in realtime te bewaken. Op basis van deze gegevens bestuurt de PLC nauwkeurig laserscansystemen, transferrobots en sorteeractuatoren, waardoor snelle inspectie, automatische sortering en nauwkeurig lossen worden bereikt.

Door dit intelligente bewakings- en controlesysteem verbetert de wafer sorteermachine de sorteerefficiëntie aanzienlijk en waarborgt tegelijkertijd de nauwkeurigheid en herhaalbaarheid van de inspectieresultaten, wat een sterke ondersteuning biedt voor stabiele massaproductie.

Toepassingsvoordelen:

• Ondersteunt meerdere wafermaten en trayformaten, en biedt flexibele paneelopties;

• Modulaire I/O-combinatie maakt eenvoudige uitbreiding mogelijk op basis van de lijntakt en de behoeften van de stations;

• Hoogprecisie-inspectie en stabiele sortering verminderen handmatige interventie en gemiste defecten;

• Gecentraliseerd PLC-beheer maakt receptgebaseerde procescontrole en historische datalogging mogelijk voor volledige kwaliteitstraceerbaarheid.